Студэнтам завочнага факультэта

ГРАФIК

прававядзення кансультацый i прыему акадэмiчных запазычанасцяў

студэнтаў завочнага факультэта

у восеньскiм семестры 2016/17 навучальнага года

на кафедры аналітычнай хіміі

Дысцыплiна

Выкладчык

дзень

час

Аудыторыя

Аналитическая химия и ФХМА

Г.М. Супiчэнка

03.09

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

10.09

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

17.09

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

24.09

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

01.10

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

08.10

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

15.10

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

22.10

14.30–15.30

450-4

Г.М. Супiчэнка

29.10

14.00–15.30

450-4

I.В. Савоська

05.11

9.00–10.30

448-4

I.В. Савоська

12.11

9.00–10.30

448-4

I.В. Савоська

19.11

9.00–10.30

448-4

I.В. Савоська

26.11

9.00–10.30

448-4

I.В. Савоська

03.12

9.00–10.30

448-4

I.В. Савоська

10.12

9.00–10.00

448-4

I.В. Савоська

17.12

9.00–10.00

448-4

I.В. Савоська

24.12

9.00–10.00

448-4

 

 

 

ПЫТАННІ для самападрыхтоўкі па дысцыпліне

«Фізіка-хімічныя метады аналізу"

для студэнтаў II курса завочнага факультэта

спецыяльнасці "Лясная гаспадарка"

 

1. Класіфікацыя метадаў аналізу.

2. Метралагічныя характарыстыкі фізіка-хімічных метадаў аналізу (адчувальнасць, селектыўнасць, правільнасць і інш.).

3. Метады вызначэння невядомай канцэнтрацыі:

метад градуiровачнага графіка;

метад стандартаў;

метад дабавак;

метад інструментальнага цітравання.

4. Кандуктаметрыя (прынцып метаду, аналітычны сігнал, удзельная і эквівалентная электраправоднасць).

5. Прамая кандуктаметрыя і кандуктаметрычнае цітраванне (прынцыпы і ўмовы метадаў, асноўныя вартасці)

6. Тыпы рэакцый і тыпы крывых цітравання ў кандуктаметрычным цітраваннi.

7. Фактары, якія ўплываюць на выразнасць злому кандуктаметрычных крывых цітравання.

8. Фактары, якія ўплываюць на электраправоднасць раствораў.

9. Патэнцыяметрыя (аснова метаду, аналітычны сігнал, прырода ўзнікнення патэнцыялу).

10. Ураўненне Нэрнста.

11. Электроды ў патэнцыяметрыi.

12. Патрабаванні да электродаў параўнання ў патэнцыяметрыi.

13. Патрабаванні да індыкатарных электродаў ў патэнцыяметрыi.

14. Iёнселектыўныя  электроды.

15. Мембрана iёнселектыўных электродаў (функцыі, прынцып дзеяння).

16. Мембранны патэнцыял iёнселектыўных электродаў (прырода ўзнікнення, ад чаго залежыць, ўлік замінаючых іёнаў - ураўненне Нікольскага).

17. Інтэрвал выканання электроднай функцыі iёнселектыўных электродаў (Нэрнстаўская функцыя).

18. Ніжняя і верхняя межы вызначэння канцэнтрацый у патэнцыяметрыi.

19. Канстанта селектыўнасці  электродаў у патэнцыяметрыi.

20. Iёнселектыўны  электрод (прынцып дзеяння).

21. Шкляны электрод (прынцып дзеяння, ураўненне Нікольскага для шклянога электрода).

22. Селектыўнасць шклянога электрода ў кіслых і моцна шчолачных растворах.

23. Патэнцыяметрычнае цітраванне (прынцып метаду, якія выкарыстоўваюцца рэакцыі і электроды).

24. Крывыя цітравання ў патэнцыяметрычным цітраваннi.

25. Спосабы вызначэння канчатковай кропкі цітравання пры патэнцыяметрычным цітраваннi.

26. Спектральныя метады аналізу.

27. Атамная эмісійная спектраскапія (прынцып метаду, аналітычны сігнал).

28. Атамныя спектры (энергетычныя пераходы ў атаме, спектральныя лініі).

29. Асноўныя характарыстыкі спектральных ліній.

30. Асновы метаду фотаметрыі полымя, асноўныя вузлы палымянага фатометра.

31. Працэсы, якія праходзяць у полымi пры аналізе метадам фотаметрыі полымя.

32. Пабочныя працэсы пры аналізе метадам фотаметрыі полымя, метады іх падаўлення.

33. Малекулярная абсарбцыйныя спектраскапія (малекулярныя спектры паглынання).

34. Законы светапаглынання (закон Бугера-Ламберта-Бера, закон адытыўнасцi).

35. Прычыны адхіленняў ад закона Бугера-Ламберта-Бера.

36. Асноўныя этапы фотаметрычнага аналізу.

37. Метады вызначэння невядомай канцэнтрацыі ў фотаметрыі.

38. Асноўныя вузлы спектральных прыбораў.

39. Асновы фотаметрычнага цітравання, тыпы крывых у фотаметрычным цітраваннi.

40. Асновы метадаў нефеламетрыi і турбiдыметрыi.

41. Фактары, якія ўплываюць на памеры часціц у нефеламетрыi і турбiдыметрыi.

42. Асновы рэфрактаметрычнага аналізу.

43. Фактары, якія ўплываюць на велічыню праламлення (у метадзе рэфрактаметрыi).

44. Колькасны і якасны аналіз метадам рэфрактаметрыi.